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简要描述：FilmTek 2000SE光谱型椭偏仪以非常低的成本为薄膜应用提供了的测量性能和速度。FilmTek SE提供了自动测量薄膜厚度、折射率和消光系数的功能，非常适合学术和研发。
产品型号：厂商性质：代理商更新时间：2019-02-01访 问 量：599产品分类
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| 价格区间 | 面议 | 产地类别 | 进口 |
|---|
Measurement Features | FilmTek™ 2000SE / 3000SE |
Index of Refraction折射率 | ±0.0002 |
Thickness Measurement Range 膜厚范围 | 1Å-200µm |
Maximum Spectral Range (nm) 大光谱范围 | 190-1700 |
Standard Spectral Range (nm) 标准光谱范围 | 240-1000 |
Reflection 反射 | Yes |
Transmission 透射 | Yes (3000) |
Spectroscopic Ellipsometry 光谱椭圆分析法 | Yes |
Power Spectral Density | Yes |
Multi-angle Measurements (DPSD) | Yes |
TE & TM Components of Index | No |
Multi-layer thickness | Yes |
Index of Refraction | Yes |
Extinction (absorption) Coefficient | Yes |
Energy band gap | Yes |
Composition | Yes |
Crystallinity | Yes |
Inhomogeneous Layers | Yes |
Surface Roughness | Yes |
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