EddyCus TF lab 2020电阻率测量仪可以对导电薄膜进行手动单点测量，并以非接触模式对薄金属层进行层厚测量。这个紧凑的台式设备是快速和准确测量200 x 200 mm²（8 x 8英寸）以下样品的理想选择。除了测量导电薄层外，还可以分析掺杂的晶圆和导电聚合物。

四探针面电阻测量仪SD-800采用四探针接触式原理，用于测量导电膜层的面电阻，探针直径大，针头光滑，能伸缩，不易 划伤膜层。仪器有多个量程范围可自动选择，以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据，校准数据和测量结果 自动存储。

非接触式面电阻测试仪Statometer G采用感应式测量原理，无探针接触导电膜层，既可测量表面导电也可测量表面不导电的导电玻璃和导电膜层，是目前Low-E镀膜生产普遍选用的优质选择。