NL-QMS磁控溅射纳米颗粒尺寸控制系统能够实时监测纳米颗粒的尺寸分布，通过质量过滤器按质量或直径实时扫描或过滤沉积的纳米颗粒，从而促进生长条件的优化。

Nikalyte NEXUS物理气相沉积系统是一款超多功能的PVD（物理气相沉积）系统，能够生成纳米颗粒和薄膜，非常适合工业和学术研究。NL-FLEX可以容纳各种类型的基底，包括卷对卷、非平面和粉末涂层。它适用于广泛的应用领域，包括催化、光子学、能量存储、传感器和生命科学。这种模块化的PVD沉积系统可以与分析工具集成，为您提供定制化的研究解决方案。

Nikalyte NL-FLEX物理气相沉积系统是一款超多功能的PVD（物理气相沉积）系统，能够生成纳米颗粒和薄膜，非常适合工业和学术研究。NL-FLEX可以容纳各种类型的基底，包括卷对卷、非平面和粉末涂层。它适用于广泛的应用领域，包括催化、光子学、能量存储、传感器和生命科学。这种模块化的PVD沉积系统可以与分析工具集成，为您提供定制化的研究解决方案。

Nikalyte NL-Cube物理气相沉积系统是一个紧凑且灵活的PVD（物理气相沉积）系统，具备薄膜、纳米颗粒和合金沉积能力。该系统有两种型号：375型（最多可容纳五个源，基底直径可达四英寸）和300型（最多可容纳四个源，基底直径可达两英寸）。由于其体积相对较小，真空腔体的抽真空速度较快，周转时间约为30分钟。

EddyCus® map 2530RM电阻率测试仪在非接触模式下自动测量大型样品的薄层电阻，最大可达300×300平方毫米（12×12英寸）。在手动样品定位时，该设备会自动测量并显示整个样品区域的薄层电阻的准确映射。测量设置允许轻松灵活地在低于 1 分钟的快速测量时间或超过 10,000 个测量点的高空间测量分辨率之间进行选择。

EddyCus map C2C全自动电阻率成像系统用于晶圆衬底或外延片的全面积表征，以确保半导体行业的工艺可靠性和质量保证。该系统配备了两个在传输模式下工作的非接触式涡流传感器。这允许非常详细地显示基底材料或导电涂层的均匀性。该系统能够测量薄膜的薄层电阻或金属膜厚度以及晶圆衬底的电阻率。